903141000

HS 编码 903141000（第 90 章「光学、测量、医疗仪器」；品目 9031「未列名测量或检验仪器、器具及机器；轮廓投影仪」；子目 903141「用于检查半导体晶圆、器件、光掩模或网版」）在日本税则中对应"For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)"。日本海关对该编码商品征收一般税率 Free、WTO 税率 (Free)。法定计量单位为NO。目前有 21 项自贸协定优惠税率可适用于该编码。