WCO 分类路径
- 章90光学、测量、医疗仪器
- 品目9031未列名测量或检验仪器、器具及机器；轮廓投影仪AI 译
- 子目903180其他仪器、器具及机器AI 译
- 国家码90318040Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles
90318040
美国 HS 90318040 （Electron beam microscopes fitted with equipment sp）进口关税是多少？
一句话答案：美国 对 HS 90318040 的最惠国税率 (MFN)为 Free。
"Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles"
HS 编码 9031.80.40.00（第 90 章「光学、测量、医疗仪器」；品目 9031「未列名测量或检验仪器、器具及机器；轮廓投影仪」；子目 903180「其他仪器、器具及机器」）在美国税则中对应"Electron beam microscopes fitted with equipment specifically designed for the handling and transport of semiconductor wafers or reticles"。美国海关对该编码商品征收最惠国税率 (MFN) Free、第二栏税率 40%。法定计量单位为No.。
税率清单
| 类别 | 税率 |
|---|---|
最惠国税率 (MFN) MFN rate | Free |
第二栏税率 Column 2 rate | 40% |
同一 HS 6 位前缀 9031.80 在其他国家的税率对照